山东大学学报(工学版) ›› 2009, Vol. 39 ›› Issue (1): 114-117.doi:
吴师岗
WU Shigang
摘要:
摘要:用电子束蒸发法制备出ZrO2/SiO2和YSZ/SiO2多层膜,分别测定了薄膜结构特性和激光损伤阈值. 实验结果表明:Y2O3稳定的ZrO2镀膜材料在电子束蒸发过程中不会发生相变,而未稳定的ZrO2则必然发生相变产生喷溅,使缺陷增加,从而使损伤阈值降低. 通过分析认为相变引起的缺陷是YSZ/SiO2和ZrO2/SiO2高反膜损伤阈值差别的主要原因.
中图分类号:
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